产品型号：Beam'R2
产品ID：S-BR2-Si
品牌名称：美国Dataray
狭缝扫描式光束质量分析仪系统提供高分辨率，但是要求光束小于1μm并且价格要高于相机型光束分析仪。尽管不能给出光束图像，但是在很多情况下XY或XYZ就可以满足应用要求。
产品特点：
· 190至1150 nm，Si探测器
· 650至1800 nm，InGaAs探测器
· 1000至2300或2500 nm，InGaAs（扩展）探测器
· 端口供电，USB2.0，灵活的3米电缆，没有电源砖
· 0.1μm采样和分辨率
· 线性和对数X-Y轮廓
· 轮廓缩放和狭缝宽度补偿
· 经济又准确
· M2选项 – 光束传播分析、发散、聚焦
产品选择：
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Beam’R2
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BeamMap2
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主要特征
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集成X和Y轮廓
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实时 XYZθΦ 测量和焦点查找
实时指向、发散和M2 测量
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接口
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USB 2.0 Port-powered
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CW or Pulsed?
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CW，脉冲最小 PRR（Si 探测器）≈ [500/（激光直径μm）] kHz
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波长
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Si:190-1150 nm
InGaAs:650-1800 nm
Si+InGaAs:190-1800nm
Si+InGaAs,extended:190-2500nm
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X-Y-Z Profiles, plus Θ-Φ
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N/A
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最佳分辨率
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0.1 μm
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最小光束
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2 μm (Knife Edge mode)
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更新率
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5 Hz real-time (adjustable 2-10 Hz)
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M2 测量
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Yes - with M2DU-BR accessory
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Yes - real-time
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定位焦点
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Yes - with M2DU-BR accessory
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Yes - real-time
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指向/发散
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Yes - with M2DU-BR accessory
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Yes - real-time
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开关增益（选项 dB）
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32 dB
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参数
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参数值
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BeamMap2
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Beam'R2
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Comments
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波长可选范围（nm）
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190-1150, 650-1800, 190-1800, 190-2500
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Yes
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Yes
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Si, InGaAs, Si + InGaAs,
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被扫描光束直径
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2 μm to 4 mm (2 mm for IGA-X.X)
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Yes
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Yes
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Si + InGaAs, extended
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X-Y 轮廓及中心分辨率：
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0.1 μm 或者 0.05% 的扫描范围
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Yes
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Yes
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精度:
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± <2% ± ≤0.5μm
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Yes
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Yes
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CW or Pulsed
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连续/脉冲 最小PRR ≈ [500/(激光直径μm)]kHz
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Yes
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Yes
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光束对准准直
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± 1 mrad with BeamMap2 Colli Mate
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Yes
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-
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M2 测量
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1 to >20, ± 5%
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Yes
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-
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Beam Dependent
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实时更新
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5 Hz
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Yes
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Yes
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4 Z-plane hyperbolic fit
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最大功率＆辐照度
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1 W Total & 0.3 mW/μm2
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Yes
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Yes
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Adjustable 2-12 Hz
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增益范围：
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32dB
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Yes
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Yes
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Metallic film on Sapphire slits
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