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BeamMap2狭缝扫描式光束质量分析仪

产品型号:BeamMap2

产品ID:S-BMS2-4XY-Si-250

品牌名称:美国Dataray

 

DataRay的BeamMap2代表了一种完全不同的实时光束分析方法。 它通过允许沿光束行程的多个位置进行测量,扩展了Beam'R2的测量功能。 这种实时狭缝扫描系统在旋转圆盘上的多个z平面中使用XY狭缝对,以同时测量四个不同z位置处的四个光束轮廓。 BeamMap2独特的设计最适用于焦点位置,M2,光束发散和指向的实时测量。

 

产品特点:

 

· 190至1150 nmSi探测器

· 650至1800 nm,InGaAs探测器

· 1000至2300或2500 nm,InGaAs(扩展)测器

· 提供多种平面间距选项

· 光束直径为5μm至4mm

· 端口供电,USB2.0灵活的3米电缆没有电源砖

· 0.1μm采样和分辨率

· 线性和对数X-Y轮廓

· 轮廓缩放和狭缝宽度补偿

· 实时多Z平面扫描狭缝系统

· 实时 XYZ轮廓,焦点位置

· 实时M2、发散、准直、对准

 

产品参数:

产品参数

 

波长

Si detector: 190 to 1150 nm

InGaAs detector: 650 to 1800 nm

Si + InGaAs detectors: 190 to 1800 nm

Si + InGaAs (extended) detectors: 190 to 2300 or 2500 nm

扫描光束直径

Si detector: 5 μm to 4 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*

InGaAs detector: 10 μm to 3 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*

InGaAs (extended) detector: 10 μm to 2 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*

平面间距(4XYmodels

100 μm: -100, 0, +100, +400 μm

250 μm: -250, 0, +250, +1000 μm

500 μm: -500, 0, +500, +2000 μm

750 μm: -750, 0, +750, +3000 μm

平面间距(3XYKE models)

50 μm: -50, 0, +50, 0 μm

100 μm: -100, 0, +100, 0 μm

束腰直径测量

Second moment (4s) diameter to ISO 11146; Fitted Gaussian & TopHat

1/e2 (13.5%) width

User selectable % of peak

Knife-Edge mode* for very small beams

束腰位置测量

X、Y 和 Z 方向上 ± 20 μm 最佳

测量源

连续波;脉冲激光,F μm = [500/(PRR in kHz)]

分辨率精度

0.1μm或扫描范围的 0.05%±<2%±= 0.5 μm

M2 测量

1 to > 20, ± 5%

发散/准直,指向

1 mrad最好

最大功率和辐照度

1 W Total & 0.5 mW/μm2

增益范围

1,000:1 Switched 4,096:1 ADC range

显示图形

X-Y-Z Position & Profiles, Zoom x1 to x16

更新率, ,

~5 Hz

平均

用户可选择运行平均值(1 到 8 个样本)

最低电脑要求

Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port

* Knife-Edge mode需要 3XYKE 型号

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